有時候會覺得它不太夠用。
為了加快維修的速度，就買了一台新的數位IC測試機。
新的設備入手，先做性能測試：
數位IC測試機評比
ABI ChipMaster Compact Pro
SUNSHINE HANDY TESTER PICKER-20
測試方法：先用ABI ChipMaster對庫存及以前拆換的壞IC測試，挑出FAIL的，再用SUNSHINE的對FAIL的IC重複測試一次。
藍色底色，表示在該項零件的測試上性能較佳
|
ABI 測出壞的個數 |
SUNSHINE 測出壞的個數 |
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| 4006 | 1 | 0 |
| 4013 | 1 | 0 |
| 4025 | 1 | 0 |
| 4076 | 3 | 1 |
| 4510 | 1 | 1 |
| 4584 | 1 | 1 |
| 4538 | 7 | 0 |
| 7406 | 1 | 1 |
| 74HC04 | 1 | 0 |
| 74HC151 | 1 | 0 |
| 74LS373 | 1 | 0 |
| 74ALS04 | 1 | 1 |
| 4050 | 2 | 2 |
| 4528 | 10 |
無資料 4538代測 8 |
| 4527 | 1 | 無資料 |
| 4054 | 無資料 | 可測 |
| 4504 |
無資料 4010代測 |
可測 |
| 4046 | 無資料 | 無資料 |
| 4536 | 無資料 | 無資料 |
| 4562 | 無資料 | 無資料 |
結論：ABI的在測試性能上較佳。資料庫中沒有的，將來自行研發加入新元件
